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無損檢測(cè)方法很多據(jù)美國國家宇航局調(diào)研分析,認(rèn)為可分為六大類約70余種。但在實(shí)際應(yīng)用中比較常見的有以下幾種:   
                常規(guī)無損檢測(cè)方法有:            超聲檢測(cè)  Ultrasonic  Testing(縮寫  UT);            射線檢測(cè)  Radiographic  Testing(縮寫  RT);            磁粉檢測(cè)  Magnetic  particle  Testing(縮寫  MT);            滲透檢驗(yàn)  enetrant  Testing  (縮寫  PT);            渦流檢測(cè)Eddy  current  Testing(縮寫  ET);            非常規(guī)無損檢測(cè)技術(shù)有:            聲發(fā)射Acoustic  Emission(縮寫  AE);            泄漏檢測(cè)Leak  Testing(縮寫  UT);            光全息照相Optical  Holography;            紅外熱成象Infrared  Thermography;            微波檢測(cè)  Microwave  Testing 
其中          1.射線檢測(cè)  利用射線(X射線、γ射線、中子射線等)穿過材料或工件時(shí)的強(qiáng)度衰減,檢測(cè)其內(nèi)部結(jié)構(gòu)不連續(xù)性的技術(shù)稱為射線檢測(cè)。穿過材料或工件的射線由于強(qiáng)度不同在X射線膠片上的感光程度也不同,由此生成  內(nèi)部不連續(xù)的圖象。          2.  超聲檢測(cè)      超聲波在被檢測(cè)材料中傳播時(shí),材料的聲學(xué)特性和內(nèi)部組織的變化對(duì)超聲波的傳播產(chǎn)生一定的影響,通過對(duì)超聲波受影響程度和狀況的探測(cè)了解材料性能和結(jié)構(gòu)變化的技術(shù)稱為超聲檢測(cè)。            3.  磁粉檢測(cè)  利用漏磁和合適的檢驗(yàn)介質(zhì)發(fā)現(xiàn)試件表面和近表面的不連續(xù)性的無損檢測(cè)方法。          4.  滲透檢測(cè)      利用液體的毛細(xì)管作用,將滲透液滲入固體材料表面開口缺陷處。再通過顯象劑將滲入的滲透液吸出到表面顯示缺陷的存在。這種無損檢測(cè)方法稱為滲透檢測(cè)。          5.  渦流檢測(cè)      利用鐵磁線圈在工件中感生的渦流,分析工件內(nèi)部質(zhì)量狀況的無損檢測(cè)方法稱為渦流檢測(cè)。 
各種無損檢測(cè)方法的名稱,也同樣推薦使用“檢測(cè)”一詞,如射線照相檢測(cè)、超聲檢測(cè)、磁粉檢測(cè)、滲透檢測(cè)、渦流檢測(cè)等等。在翻譯時(shí),與  Non-destructive  相連用的如  inspection、examination、evaluation  等英文詞,都推薦譯成“無損檢測(cè)”一詞,盡量避免寫作“無損探傷”、“無損檢查”、“無損檢驗(yàn)”、“無損評(píng)價(jià)”等。這一譯法也同樣適用于各種無損檢測(cè)方法名稱的譯法。  注:inspection、examination、evaluation  等詞,僅在翻譯無損檢測(cè)及其方法的名稱時(shí)才推薦譯成“檢測(cè)”一詞,其他場(chǎng)合宜依據(jù)原文內(nèi)容和中文習(xí)慣來翻譯。  常用  NDT  方法的英文及其縮寫:  超聲檢測(cè)  ultrasonic  testing  —  UT  磁粉檢測(cè)  magnetic  particle  testing  —  MT  計(jì)算機(jī)層析成像檢測(cè)  computed  tomographic  testing  —  CT  目視檢測(cè)  visual  testing  —  VT  射線照相檢測(cè)  radiographic  testing  —  RT  滲透檢測(cè)  penetrant  testing  —  PT  聲發(fā)射檢測(cè)  acoustic  emission  testing  —  AT、AE  渦流檢測(cè)  eddy  current  testing  —  ET  泄漏檢測(cè)  leak  testing  —  LT
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